Zmogljiv merilni sistem debeline z O-okvirjem

logo

Merilni sistem debeline z O-okvirjem širi nabor sistemov thicknessGAUGE proizvajalca preciznih senzorskih rešitev Micro-Epsilon.

ThicknessGAUGE O.EC uporabite za zanesljivo in zelo natančno linijsko merjenje plastičnih trakov, filmov in folij, debelih do 3 mm in širokih do 1,25 m. Kompletno »Out-of-the-box« rešitev po dostopni ceni lahko izkoristite v novi proizvodni liniji ali pa z njo nadgradite že obstoječo.

Uporabite vrhunski merilni sistem debeline

Rešitev thicknessGAUGE O.EC zapolnjuje vrzel med enostavnimi rešitvami in dragimi namenskimi sistemi za merjenje debeline in nadzor kakovosti v proizvodnji. Vključuje kompakten, robusten O-okvir, integrirano krmilno omaro in aluminijast merilni valj.

Merilni sistem debeline z O-okvirjem vam omogoča natančne meritve z linearnostjo do ±0,3 µm. Z njim izmerite plastične trakove, filme in folije debele do 3 mm in široke do 1,25 m. S senzorjem, ki se premika čez merjenca, pridobite meritve prečnega profila debeline materiala, vzdolžni profil pa izmerite z nepremičnim senzorjem nad merjencem.

Najvišja natančnost po dostopni ceni

Izognite se številnim težavam in pomanjkljivostim ob samostojnem sestavljanju merilnega sistema debeline iz posameznih senzorjev. Merilni sistem thicknessGAUGE O.EC je kompakten, že pripravljen sistem za merjenje debeline in nadzor kakovosti. Z njim ne boste prihranili le denarja ampak tudi čas in skrbi. V primeru, da razpoložljivi modeli tega sistema ne bi ustrezali vsem zahtevam vaše aplikacije, so vam na voljo tudi namenski, a dražji Micro-Epsilon thicknessCONTROL sistemi.

Sistem thicknessGAUGE O.EC je primeren za vključitev v proizvodne linije, na primer pri proizvodnji plastičnih oz. specialnih filmov za baterije. Lahko ga vključite v novo proizvodno linijo ali pa z njim nadgradite že obstoječo.

Spoznajte način merjenja debeline

Meritev debeline materiala s submikronsko natančnostjo in visoko stabilnostjo signala omogoča senzor combiSENSOR KSS6430. Združuje kapacitivni senzor in pa induktivni eddyNCDT senzor, ki temelji na tehnologiji vrtinčnih tokov. Oba senzorja merita iz iste strani, v smeri aluminijastega merilnega valja.

Z uporabo dielektrične konstante neprevodnega medija kapacitivni senzor natančno določi razdaljo do vrha merjenca. Sočasno induktivni eddyNCDT senzor skozi merjenca izmeri razdaljo do aluminijastega valja. Razlika med obema meritvama je debelina merjenca. Pred pričetkom meritve je treba sistem kalibrirati na referenčnem merjencu z znano debelino.

Izkoristite zmogljivo programsko opremo

Vsi merilni sistemi thicknessGAUGE O.EC so opremljeni z industrijskim panelnim PC za večtočkovni dotik. Na njem je naložena thicknessCONTROL programska oprema iz precej dražjih namenskih sistemov thicknessCONTROL.

Merite lahko debelino materiala na fiksnem položaju, debelino profila ob potovanju senzorjev ali pa različne longitudinalne trende. Posledično so vam na voljo različne možnosti predstavitve izmerjenih procesnih vrednosti. Vključena je tudi statistično procesna kontrola vseh meritev, ki vam omogoča lasten širok nabor avtomatskih preverjanj.

Poleg tega lahko izkoristite še druge funkcionalnosti za dokumentiranje in procesno kontrolo: podatkovno bazo za produkte, podatkovno bazo za arhiv proizvodnje in statistično ocenjevanje. Ob uporabi digitalnih področnih vmesnikov lahko nadzorujete tudi mejne vrednosti.

Merilni sistem debeline uporabite za različne aplikacije

Sistem thicknessGAUGE O.EC je primeren za meritve:

  • plastičnih filmov,
  • plastičnih trakov,
  • plastičnih folij,
  • pri proizvodnji baterij, npr. za meritve debeline materialov za gorivne celice in baterijske filme, s prevlekami ali brez,

Tipteh d.o.o.
Ulica Ivana Roba 23, 1000 Ljubljana
Telefon: +386 (0)1 200 51 50
E-pošta: info@tipteh.si
https://tipteh.com/si

Celotna PDF revija brezplačno!

Sorodni članki

Zadnji članki

Dnevi robotike

FAKULTETA ZA ELEKTROTEHNIKO 26. — 28. marec 2024 Dogodek DIR24 poteka v obliki robotskega hekatona, na katerem lahko sodelujejo vsi študenti Univerze v Ljubljani. Izziv, ki...

Nagrada za prijaznost podnebju

CDP je podjetje FANUC ocenil kot "A-Seznam"

Svet mehatronike 45 (1-2024)

Pozdravljeni drage bralke in dragi bralci revije Svet mehatronike! Izgleda, da se svet vrti vedno hitreje. Pa s tem ne mislim vrtenja našega planeta, pač pa uvajanje novih tehnologij. V tokratni številki revije Svet mehatronike boste namreč lahko prebrali, kako umetna inteligenca (AI) pomaga pri iskanju novih materialov.

Želite biti na tekočem z najnovejšimi novicami?

Radi bi vas slišali! Prosimo, izpolnite svoje podatke in ostali bomo v stiku. Tako preprosto je!